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原位去嵌入(ISD)是一種創新的去嵌入工具,可提供帶測物(DUT)的因果結果。 許多去嵌入工具直接使用“減去”測試樣片來進行去嵌入。因此,當測試樣片和實際夾具有不同的阻抗時,DUT結果就不會有因果關係。 ISD僅將測試樣板用作參考,並且對阻抗變化不敏感,從而可以提高精度並節省成本。

甚麼是因果關係 (cau·sal·i·ty) ?

定義 : 
  1. the relationship between cause and effect.
  2. the principle that everything has a cause.

簡言之: 
     Can not get something from nothing.  
 
下圖清楚顯示了TRL之後的非因果響應,這歸因於TRL校準板和實際DUT測試夾具之間的阻抗變化。 若使用ISD, 則不會產生"沒有因果關係"的錯誤。 此時還有回波損耗 (Return Loss, RL)的巨大差異。
 

 

ISD如何處理 ? 

通過優化,ISD可以準確地去嵌入制具的阻抗,而不受 2x-thru的阻抗影響。



ISD 的優勢 :
 
1. Gives more accurate and causal results
2. Uses standard substrates, etching tolerances and connectors for the test fixture and coupons
3. Extracts crosstalk from a single trace test coupon
4. Extracts small DUT from a large board
5. De-embeds asymmetric structures
6. Runs in batch to stack up multiple jobs